FISCHER測厚儀采用全新數學計算方法和最新的FP（Fundamental Parameter）、DCM (Distenco Controlled Measurement)及強大的電腦功能來進行鍍層厚度的計算,創新的高科技X-射線技術的支持，可對膜層厚度，進行非破壞式的測量，符合國際標準來進行非破壞及不接觸的測量。除了可以測量鍍層厚度外，還可以計算合金中各種元素的含量。

FISCHER測厚儀可變焦距控制功能和固定焦距控制功能  
計算機系統配置  戴爾計算機 
分析應用軟件  操作系統：Windows XP中文平臺 分析軟件包：SmartLink FP軟件包  
－測厚范圍  可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。  
－基本分析功能  采用基本參數法校正。將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。  
樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)  
可檢測元素范圍：CL17 – U92  

FISCHER測厚儀應用:
1.測量大規模生產的零部件
2.測量微小區域上的薄鍍層
3.測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
4.全自動測量,如測量印刷線路板

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